電容故障  　　

 

電容損壞引發的故障在電子設備中是最高的，其中尤其以電解電容的損壞最為常見。電容損壞表現為：容量變小、完全失去容量、漏電、短路。  　　

 

電容在電路中所起的作用不同，引起的故障也各有特點：在工控電路板中，數字電路占絕大多數，電容多用做電源濾波，用做信號耦合和振蕩電路的電容較少。用在開關電源中的電解電容如果損壞，則開關電源可能不起振，沒有電壓輸出；  　　

 

 

或者輸出電壓濾波不好，電路因電壓不穩而發生邏輯混亂，表現為機器工作時好時壞或開不了機，如果電容并在數字電路的電源正負極之間，故障表現同上。  　　

 

這在電腦主板上表現尤其明顯，很多電腦用了幾年就出現有時開不了機，有時又可以開機的現象，打開機箱，往往可以看見有電解電容鼓包的現象，如果將電容拆下來量一下容量，發現比實際值要低很多。  　　

 

電容的壽命與環境溫度直接有關，環境溫度越高，電容壽命越短。這個規律不但適用電解電容，也適用其它電容。所以在尋找故障電容時應重點檢查和熱源靠得比較近的電容，如散熱片旁及大功率元器件旁的電容，離其越近，損壞的可能性就越大。所以在檢修查找時應有所側重。  　　

 

有些電容漏電比較嚴重，用手指觸摸時甚至會燙手，這種電容必須更換。在檢修時好時壞的故障時，排除了接觸不良的可能性以外，一般大部分就是電容損壞引起的故障了。所以在碰到此類故障時，可以將電容重點檢查一下，換掉電容后往往令人驚喜。  　　

 

電阻故障  　　

 

常看見許多初學者在檢修電路時在電阻上折騰，又是拆又是焊的，其實修得多了，你只要了解了電阻的損壞特點，就不必大費周章。  　　

 

電阻是電器設備中數量最多的元件，但不是損壞率最高的元件。電阻損壞以開路最常見，阻值變大較少見，阻值變小十分少見。常見的有碳膜電阻、金屬膜電阻、線繞電阻和保險電阻幾種。  　　

 

前兩種電阻應用最廣，其損壞的特點一是低阻值 (100Ω以下) 和高阻值 (100kΩ以上) 的損壞率較高，中間阻值 (如幾百歐到幾十千歐) 的極少損壞；二是低阻值電阻損壞時往往是燒焦發黑，很容易發現，而高阻值電阻損壞時很少有痕跡。  　　

 

線繞電阻一般用作大電流限流，阻值不大；圓柱形線繞電阻燒壞時有的會發黑或表面爆皮、裂紋，有的沒有痕跡；水泥電阻是線繞電阻的一種，燒壞時可能會斷裂，否則也沒有可見痕跡；保險電阻燒壞時有的表面會炸掉一塊皮，有的也沒有什么痕跡，但絕不會燒焦發黑。根據以上特點，在檢查電阻時可有所側重，快速找出損壞的電阻。  　　

 

根據以上列出的特點，我們先可以觀察一下電路板上低阻值電阻有沒有燒黑的痕跡，再根據電阻損壞時絕大多數開路或阻值變大以及高阻值電阻容易損壞的特點，我們就可以用萬用表在電路板上先直接量高阻值的電阻兩端的阻值。  　　

 

如果量得阻值比標稱阻值大，則這個電阻肯定損壞 (要注意等阻值顯示穩定后才下結論，因為電路中有可能并聯電容元件，有一個充放電過程) ，如果量得阻值比標稱阻值小，則一般不用理會它。這樣在電路板上每一個電阻都量一遍，即使“錯殺”一千，也不會放過一個了。  　　

 

運算放大器故障  　　

 

運算放大器好壞的判別對相當多的電子維修者有一定的難度，不只文化程度的關系，在此與大家共同探討一下，希望對大家有所幫助。  　　

 

理想運算放大器具有“虛短”和“虛斷”的特性，這兩個特性對分析線性運用的運放電路十分有用。為了保證線性運用，運放必須在閉環(負反饋)下工作。如果沒有負反饋，開環放大下的運放成為一個比較器。如果要判斷器件的好壞，先應分清楚器件在電路中是做放大器用還是做比較器用。  　　

 

根據放大器虛短的原理，就是說如果這個運算放大器工作正常的話，其同向輸入端和反向輸入端電壓必然相等，即使有差別也是mv級的，當然在某些高輸入阻抗電路中，萬用表的內阻會對電壓測試有點影響，但一般也不會超過0.2V，如果有0.5V以上的差別，則放大器必壞無疑。  　　

 

如果器件是做比較器用，則允許同向輸入端和反向輸入端不等。同向電壓>反向電壓，則輸出電壓接近正的最大值；同向電壓<反向電壓，則輸出電壓接近0V或負的最大值(視乎雙電源或單電源)。如果檢測到電壓不符合這個規則，則器件必壞無疑！這樣你不必使用代換法，不必拆下電路板上的芯片就可以判斷運算放大器的好壞了。

 

方案介紹

 

君正X20003D立體雙目智能相機模組（成品）

 

 

 

方案介紹

 

WY820型3D立體雙目智能相機模組（成品），與數據采集裝置聯機使用，受控與上位機。該模組內置高精度算法，可以精確快速的檢測并輸出物體原始圖像數據和深度數據。它可用于3維空間測量、障礙物測量、物體識別、與靜態體積測量、機器人避障等行業應用。應用場景有模具設計、文物修復、工業設計、結構設計、管道機器人視覺等。該模組采用君正X2000SoC，可通過USB輸出3D點云圖。

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基于新唐ML51開發的電池管理系統（BMS）—超低功耗MCU+AFE方案

 

 

 

方案簡介  

 

1：基于ML51開發的電池管理系統（BMS）方案，是電池與用戶之間的紐帶，主要就是為了提高電池的利用率，防止電池出現過度充電和過度放電。  

 

2：系統特性  

 

?ML51是性能增強型 1T 8051微控制器，內嵌Flash，運行速度可達24 MHz  

 

?5至14節高精度電池電壓測量功能  

 

?充放電電流測量功能  

 

?短路保護功能  

 

?內置電池平衡開關  

 

?外部充放電FET控制               

 

?雙通道溫度檢測  

 

?過壓保護功能

 

性能參數

 

行業分類 : 電源電池  

 

開發平臺 : Nuvoton 新唐  

 

交付形式 : PCBA  

 

性能參數 : 運行速度 : 24 MHz  

 

應用場景 : BMS 電池保護板

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技術服務靳工：15529315703