泰瑞達榮獲2025年臺積電Open Innovation Platform(OIP)年度合作伙伴大獎
關鍵詞: 泰瑞達 臺積電OIP年度合作伙伴大獎 3DFabric測試 芯粒架構 多裸片測試方法
泰瑞達宣布,憑借對臺積電3DFabric?測試的貢獻,泰瑞達榮獲2025年臺積電Open Innovation Platform?(OIP)年度合作伙伴大獎。這項殊榮彰顯了泰瑞達、臺積電及更廣泛OIP生態系統之間的緊密合作關系。
通過臺積電OIP 3DFabric聯盟,泰瑞達與全球領先的半導體代工廠臺積電深度合作,率先研發出針對芯粒及臺積電CoWoS?先進封裝技術的多裸片測試方法。該方法顯著提升芯片點亮效率與測試質量,標志著半導體行業向芯粒架構轉型過程中的關鍵里程碑。
泰瑞達半導體測試事業部總裁Shannon Poulin表示:“泰瑞達高度認同臺積電Open Innovation Platform所倡導的開放協作生態理念,期待繼續深化合作以推動創新,為客戶創造卓越價值。泰瑞達在UCIe、GPIO及SSN測試解決方案上的戰略投資,實現對裸片間接口的可擴展、高質量測試。對客戶而言,這意味著在要求嚴苛的AI與云數據中心應用中,復雜3D IC能更快產生收益。”
泰瑞達擁有全面的半導體與電子測試設備組合,覆蓋所有測試場景,支持當今高性能器件與新興芯片架構;本次獲獎的創新方法,能在晶圓分類或芯片探針測試階段,通過UCIe裸片間接口實現高速掃描測試。提升UCIe接口的高速測試覆蓋率可以減少缺陷漏檢、優化整體質量成本,并縮短這類用于AI與云數據中心的復雜3D半導體的上市時間。
臺積電生態系統與聯盟管理部主任Aveek Sarkar表示:“感謝泰瑞達為OIP生態系統所做的貢獻,其推動的創新有效提升芯片點亮效率與測試質量。我們與泰瑞達等OIP生態系統伙伴長期合作,助力客戶借助高性能、高能效計算領域的創新加速AI技術普及,同時依托測試工具與方法大幅縮短產品上市周期。”
該獎項于“2025年臺積電北美OIP生態系統論壇”上宣布。本屆論壇匯聚臺積電的半導體設計合作伙伴與客戶,重點展示生態系統如何借助AI的巨大潛力,為臺積電先進制程與封裝技術打造下一代設計解決方案。