芯片設計隨著時間推移正在變得越來越復雜是業界人士的共識，但是究竟“復雜”體現在哪些方面，并且隨著復雜度提升，還有哪些沒有解決的問題，這就需要深入的考察和研究。

上周，西門子EDA和Wilson Research完整公布了2022年兩家公司一起合作的芯片設計報告，該報告的定量分析為我們提供了一些重要的洞見。在研究了該報告后，我們認為，芯片設計變得更復雜不僅僅體現在芯片晶體管規模變大上，還體現在SoC復雜度的提升上，而SoC復雜度提升會帶來一系列的改變，包括設計方法學的變化，以及設計驗證方面的新需求。這些新的變化和新需求將會驅動未來幾年芯片設計的變革。


01
芯片設計概述

芯片設計分為前端設計和后端設計，前端設計（也稱邏輯設計）和后端設計（也稱物理設計）并沒有統一嚴格的界限，涉及到與工藝有關的設計就是后端設計。

1、規格制定

芯片規格，也就像功能列表一樣，是客戶向芯片設計公司（稱為Fabless，無晶圓設計公司）提出的設計要求，包括芯片需要達到的具體功能和性能方面的要求。


2、詳細設計

Fabless根據客戶提出的規格要求，拿出設計解決方案和具體實現架構，劃分模塊功能。


3、HDL編碼

使用硬件描述語言（VHDL，Verilog HDL，業界公司一般都是使用后者）將模塊功能以代碼來描述實現，也就是將實際的硬件電路功能通過HDL語言描述出來，形成RTL（寄存器傳輸級）代碼。


4、仿真驗證

仿真驗證就是檢驗編碼設計的正確性，檢驗的標準就是第一步制定的規格。看設計是否精確地滿足了規格中的所有要求 。規格是設計正確與否的黃金標準，一切違反，不符合規格要求的，就需要重新修改設計和編碼。設計和仿真驗證是反復迭代的過程，直到驗證結果顯示完全符合規格標準。

仿真驗證工具Synopsys的VCS，還有Cadence的NC-Verilog。


5、邏輯綜合――Design Compiler

仿真驗證通過，進行邏輯綜合。邏輯綜合的結果就是把設計實現的HDL代碼翻譯成門級網表netlist。綜合需要設定約束條件，就是你希望綜合出來的電路在面積，時序等目標參數上達到的標準。 邏輯綜合需要基于特定的綜合庫，不同的庫中，門電路基本標準單元（standard cell）的面積，時序參數是不一樣的。所以，選用的綜合庫不一樣，綜合出來的電路在時序，面積上是有差異的。一般來說，綜合完成后需要再次做仿真驗證（這個也稱為后仿真，之前的稱為前仿真）。

邏輯綜合工具Synopsys的Design Compiler。


6、STA

Static Timing Analysis（STA），靜態時序分析，這也屬于驗證范疇，它主要是 在時序上對電路進行驗證，檢查電路是否存在建立時間（setup time）和保持時間（hold time）的違例（violation）。這個是數字電路基礎知識，一個寄存器出現這兩個時序違例時，是沒有辦法正確采樣數據和輸出數據的，所以以寄存器為基礎的數字芯片功能肯定會出現問題。

STA工具有Synopsys的Prime Time。


7、形式驗證

這也是驗證范疇，它是從功能上（STA是時序上）對綜合后的網表進行驗證。 常用的就是等價性檢查方法，以功能驗證后的HDL設計為參考，對比綜合后的網表功能，他們是否在功能上存在等價性。這樣做是為了保證在邏輯綜合過程中沒有改變原先HDL描述的電路功能。

形式驗證工具有Synopsys的Formality。


02
芯片復雜度的多維度提升

隨著人工智能、智能汽車等新應用的出現，芯片復雜度正在慢慢提升。芯片復雜度的提升可以是一件多維度的事情，一方面，它可以體現在晶體管數量的增大上；另一方面，它也可以體現在芯片中復雜子系統的數量上。

從芯片的晶體管數的角度，西門子／Wilson的研究報告中，36%以上的芯片項目門數達到了千萬級，而門數在百萬級以下的項目僅占30%，因此從晶體管數的角度，今天芯片的復雜度確實已經大大提升。

但是晶體管數并非唯一考量。例如，在一些芯片中，片上內存（如緩存）可以占據相當大的門數，但是其整體設計復雜度未必會很高。因此，另一個芯片復雜度的觀察角度是芯片子系統的數量。在SoC中，每一個芯片子系統都有其獨特的功能，而且當芯片子系統數量更多時，如何讓這些子系統能很好地工作在一起就是一件具有挑戰性的事情。因此，芯片的子系統數量也是衡量整體芯片復雜度的一個重要指標。然而，芯片子系統的數量并不容易統計，而一個可以和這個數字掛鉤的數據就是芯片上使用的處理器數量。通常，當芯片子系統的復雜度超過一定程度時，都會單獨配有一個為它服務的嵌入式處理器。因此，統計一個芯片上嵌入式處理器的數量可以從一定程度上體現芯片上復雜系統的數量，從而體現芯片設計復雜度。

從芯片上嵌入式處理器數量的角度，首先我們可以看到今天74%的芯片擁有至少一個嵌入式處理器；而一半以上的芯片項目擁有兩個以上的嵌入式處理器，15%的處理器有8個以上的嵌入式處理器。從這個角度來看，今天的芯片設計從系統角度也確實是越來越復雜。

綜上所述，我們認為芯片設計的復雜度提升不僅僅體現在晶體管數量上，還體現在系統復雜度上。這些復雜度的提升是由于應用端的驅動（例如人工智能，智能駕駛，下一代智能設備等），在未來隨著這些系統的進一步普及，我們預計會進一步推高芯片系統的復雜度，這也會給芯片設計行業帶來相應的變化。

03
芯片系統復雜度正在改變芯片設計生態

芯片系統復雜度對于芯片設計生態的影響是多方位的。首先，如前所述，隨著應用的驅動，芯片系統復雜度上升，整個芯片系統上復雜度較高的子系統數量上升，這也就讓芯片上需要的嵌入式處理器數量提升。一方面，應用驅動了對于嵌入式處理器需求的提升；另一方面，如果有成本較低、設計較為靈活的嵌入式處理器，也將能進一步賦能這樣的復雜度提升。

從這一方面來看，RISC－V可謂是切中了芯片設計復雜度提升的需求，未來可望會越來越多地得到應用，并且從另一個角度越來越多地滿足復雜芯片系統對于嵌入式處理器的需求。RISC－V是一種開源處理器指令集，任何人有能夠自由使用該指令集，并且在其基礎上進一步定制滿足自己需求的額外指令集。對于有實力的廠商來說，使用RISC－V指令集可以自主開發屬于自己的處理器，并且使用在自己的產品中；而對于中小廠商，也可以選擇SiFive等公司提供的RISC－V處理器IP來使用。目前，使用RISC－V作為對于計算性能要求不高的嵌入式處理器／MCU已經成為越來越多芯片的選擇，其背后的主要原因就是基于RISC－V處理器的成本和靈活性。而西門子／Wilson的2022年芯片設計報告也進一步證實了這一觀點：2022年有30%的芯片使用了RISC－V處理器，而這一數字在2020年僅為23%。在未來，我們預期RISC－V得到進一步廣泛的應用，并且從另一方面也進一步賦能芯片系統復雜的提升。

除了嵌入式處理器之外，隨著芯片系統復雜度提升，對于芯片系統設計的另一個改變就是如何把這些系統用高效而可靠的方法連接到一起，可以互相通信，互相訪問內存等。這就需要越來越多地使用NoC（network－on－chip）。NoC將會越來越多地成為SoC系統上的基礎IP，來確保芯片系統設計能更加高效地拓展其復雜度和設計規模。根據市場研究公司Brainy Insights的研究，未來十年內NoC的年復合增長率可達7.9%，因此我們也預期會在未來越來越多的大規模高復雜度芯片中看到NoC的使用。

因此，我們認為從設計IP角度，新的嵌入式處理器（RISC－V）和片上互連（NoC）將會成為重要的新看點，來驅動和賦能芯片系統復雜度進一步提升。


04
新興市場不只是炒作

盡管一些新興市場如今不過是炒作，但它們可能是未來的沃土。他們還可以創造新的需求，為行業的其他部分提供動力，然后創新可以提升行業的所有部分。

Semtech 信號完整性產品部高級市場經理 Raza Khan 表示：“元宇宙席卷了技術行業，并正在突破以前認為數字社區可能實現的界限。” “這種全沉浸式技術將給 5G 基礎設施帶來前所未有的壓力。對 5G 的這種不斷增長的需求需要以極低的延遲、低功耗和高性能提供更高的帶寬傳輸能力。

光學技術將在實現通過 5G 無線技術高效且有效地傳輸數據方面發揮關鍵作用。光學技術提供了 Metaverse 應用程序所需的成本效益、小尺寸、低功耗和性能。為了讓元宇宙在未來幾年得到廣泛采用，很多人都把目光投向了量子。PathWave Software 副總裁兼總經理 Niels Faché 表示：“到 2023 年，量子即服務 (QaaS) 的產品將會增加，大公司和初創企業將為客戶提供對其量子平臺的云訪問。” “Quantum EDA 將成為提高這些基于云的平臺的計算能力的關鍵推動因素，其簡化的工作流程可以處理增加量子位的數量。同時，本地定制 QPU（量子處理單元）的服務有望從設計到制造和集成解決方案得到提升，以滿足對本地量子模擬解決方案的需求。從這個角度來看，量子 EDA 也將通過這些定制 QPU 產品看到強勁的需求。”

05
芯片驗證將成為重中之重

除了新的設計IP之外，復雜芯片的驗證將會成為另一個挑戰。如前所述，復雜芯片包括了越來越多的子系統，首先每一個子系統的驗證隨著其復雜度的提升會越來越具有挑戰性。其次，多個復雜子系統的協同工作和驗證將會成為另一個芯片驗證的難點。最后，芯片系統中每個子系統存在異質性，例如，高性能模擬/混合信號模塊（例如內存接口等）越來越多地使用在復雜芯片系統中，這也給整體芯片系統的驗證帶來了挑戰，因為不同的子系統的驗證方法并不一致。

芯片驗證首先需要提高效率，降低需要的時間。根據西門子/Wilson的報告，2022年的芯片項目中，高達三分之二的項目沒能按照原定的時間交付，這也說明了目前的芯片驗證系統對于復雜芯片尚需更多效率提升。

除此之外，芯片首次流片成功的比例也在下降，在2022年高達76%的項目需要兩次或更多的流片才能實現設計目標。在導致芯片需要多次流片的原因中，首要原因是邏輯功能問題，而另一個值得注意的原因是模擬模塊出現問題：該項目在2020年和2022年占到從幾年前的20%一躍到了40%，這也說明模擬設計相關的驗證，以及模擬模塊和其他模塊的協同驗證將會成為未來復雜芯片驗證領域非常重要的尚需解決的問題。

展望未來，復雜芯片的驗證首先需要更加高效率的驗證流程，例如使用更加高效的testbench描述語言（使用C++/Python等），從而保證芯片項目能定期交付。在效率之外，由于邏輯功能仍然是芯片流片失敗的首要問題，而隨著芯片系統復雜度提升這方面的問題會越來越大，因此對于可靠的驗證方式（例如emulator）提出了要求，emulator需要能進一步降低成本，并且提升對于復雜系統的支持，從而確保復雜芯片系統的質量。最后，模擬驗證預計會成為未來復雜芯片系統中的關鍵一環，這包括了模擬驗證，以及模擬和數字系統的協同驗證（例如模擬系統建模放到數字系統中驗證等），這對于新驗證方法論的采用和新的EDA系統都提出了新的需求，預計會成為未來幾年驗證領域的另一個重頭戲。