思達科技推出新款MEMS微懸臂式探針卡。思達科技

半導體測試探針卡領(lǐng)導供應商 – 思達科技，宣布推出應用在WAT（晶圓驗收）測試的新款3D/2.5D MEMS微懸臂式探針卡系列產(chǎn)品。處女座Virgo-Prima系列呈現(xiàn)探針卡應用、制造，以及量測的融合能力。透過優(yōu)化的設計和結(jié)構(gòu)，MEMS探針卡系列提供產(chǎn)業(yè)界客戶，最佳的晶圓級參數(shù)和可靠度測試介面解決方案。

為滿足高效能運算（HPC）和高容量資料分析不斷成長的需求，探針卡制造商持續(xù)專注在先進探針的研發(fā)，而MEMS探針技術(shù)已被視為關(guān)鍵的競爭因素。在推出3D/2.5D MEMS微懸臂式WAT探針卡之后，思達在MEMS探針卡的設計上，呈現(xiàn)更多的創(chuàng)新，以符合電性量測的測試需求，并達到更高的生產(chǎn)良率。

思達處女座Virgo-Prima系列MEMS探針卡，支援從室溫到150℃寬溫度范圍的量測，應用涵蓋產(chǎn)業(yè)的測試要求，如HCI、NBTI、TDDB、EM，和RF射頻訊號完整性等。除了支援Keysight 4070/4080系列參數(shù)測試儀外，思達也推出了應用在產(chǎn)業(yè)界大多數(shù)特性驗證測試儀器，如Keysight MPPT、P9002A等的WAT MEMS探針卡。這款探針卡系列產(chǎn)品，具備可更換的測試頭，可對應于不同的PCB設計，減少對準時間且維持測試儀的可利用性。

思達科技執(zhí)行長暨技術(shù)長劉俊良博士表示：“隨著更多元的產(chǎn)業(yè)應用和混合式元件變得普遍，對半導體制造商來說，WAT測試是日益重要的程序。探針卡作為測試介面，不僅是高單價的消耗品，也必須確保分析結(jié)果是可信賴的。思達處女座Virgo MEMS探針卡系列產(chǎn)品，是專為市場趨勢而設計，是制造商未來的開發(fā)上，最佳的探測解決方案。”